-Более 40 методов измерений: измерение топографии, электропроводности, плотности зарядов и др.
-С помощью данного устройства можно проводить исследования сверхмалых (десятки нанометров) и больших образцов со сверхвысоким разрешением.
-Сферы применения: исследование наноматериалов, наноструктур, биоматериалов, магнитных материалов, полупроводников, полимеров, сверхтонких органических и неорганических пленок и т.д.

двумерный материал MoS2 на подложке HOPG. a) топография образца, b) фазовые изображения, c) профиль высоты слоя.