Атомно-силовой микроскоп NTEGRA NT-MDT system
Атомно-силовой микроскоп используют для определения рельефа поверхности с высоким разрешением, а также механических, электронных, электрических, пьезоэлектрических и магнитных свойств.
Атомно-силовой микроскоп используют для определения рельефа поверхности с высоким разрешением, а также механических, электронных, электрических, пьезоэлектрических и магнитных свойств.
Принцип работы атомно-силового микроскопа основан на регистрации силового взаимодействия между поверхностью исследуемого образца и зондом. Зонд представляет собой наноразмерное острие, располагающееся на конце упругой консоли — кантилевер. На зонд со стороны поверхности действует сила, которая приводит к изгибу кантилевера. Изменение топологии поверхности образца под зондом приводит к изменению силы, действующей на зонд, а значит, и к изменению величины изгиба кантилевера. Регистрируя величину изгиба, можно получить изображение рельефа поверхности.
3 корпус ТПУ, ауд. 001