Атомно-силовой микроскоп Prima NT-MDT - современный микроскоп, позволяющий измерить топографию, механические, электромагнитные свойства материалов с сверхвысоким разрешением по высоте до 0.1 нм. микроскоп идеально подходит как для исследования небольших образцов со сверхвысоким разрешением, так и крупных образцов в диапазонах сканирования до 100 x 100 x 10 мкм. Он применяется в разных областях.

●      Биология и биотехнология

●      Материаловедение

●      Магнитные материалы

●      Полупроводники

●      Наноматериалы

●      Наноструктуры

●      Наноэлектроника

●      Нанообработка

Наноманипуляции

микроскоп оснащен с синхронным усилителем MFLI (Zurich instrument) и электрическим линейным усилителем (FLC electronics); это позволяет одновременно измерить латеральные и вертикальные пьезоэлектрический ствойства материалов. 

Аудитория 7А, 3 корпус ТПУ, проспект Ленина, д. 43